SEM/EDX

Svepelektronmikroskopi används för studier av tvärsnitt och ytor av färdig produkt, fläckar och orenheter samt avsättningar. Tekniken används i samband med produktutveckling, problemlösning och stöd till slutkund.

Se SEM-bilder

Roliga SEM-bilder

SEM/EDX har:

Sekundärdetektor, SEI, som visar ytstruktur/topografi
Back scattering detektor, BSE, som ger grundämneskontrast
- Tunga grundämnen (oorganiskt material) ger ljusa partier
- Lätta grundämnen (organiskt material) ger mörka partier

Röntgendetektor, EDX, som ger grundämnessammansättning
- EDX = Energy Dispersive X-ray Analysis

Lågvakuum, LV

Instrumentet ger gråskalebilder och förstoringar upp till 50 000x. Den teoretiskt förstoringsgränsen är 300 000x, upplösning 3 nm vid 30 keV.

Olika typer av uppdrag:

Ytstudier
Kristallstruktur
Tvärsnittsanalyser
Fyllmedelsfördelning i tvärsnitt

Fyllmedel, typ och mängd
Pigmenttäckning
Grundämnessammansättning
Bigar

Bestrykningslager, antal och sammansättning.

Typer av prover: Massa/Papper/Kartong, avskrap, prickar, gummiduk, tryckt slutprodukt, lösningar, inkruster, metaller.

Rekommendationer vid provtagning:

Avskrap i burk vid provtagning

Markera inte för nära defekten/problemet

Friläggning utförs på MoRe

Skicka referenser
- Process- och funktionskemikalier/material
- Bra referensprov att jämföra med problem/dåligt prov

Kontakt: Marie Tjärnström, 070 368 63 72 E-post

Marie Tjärnström